様々な計測機器システムの受託開発を行っています。新規分野参入のために、 大手企業様からの試作機の開発依頼や、 OEM供給のための新規機器開発などの依頼を受けております。計測手段は、 光学、TOF、ハイパースペクトル・カメラ画像や、 加速度、圧力、 分光スペクトル等の様々なセンサーからの入力を検知し、 Al技術による信号処理や画像処理を行います。受託開発では通常、 無料のFeasibility Studyから開始させて頂いております。従って、 契約したが成果が無かったということが無いように開発を道めることが出来ます。
通常の開発ステップは以下の通りです。